EUVIS芯片中ADC的首要技術(shù)目標(biāo)有哪些?
發(fā)布時(shí)間:2020-03-11 16:27:02 瀏覽:1772
DAC 的內(nèi)部電路構(gòu)成無太大差異,一般按輸出是電流仍是電壓、能否作乘法運(yùn)算等進(jìn)行分類。大多數(shù)DAC由電阻陣列和n個(gè)電流開關(guān)(或電壓開關(guān))構(gòu)成。按數(shù)字輸入 值切換開關(guān),產(chǎn)生份額于輸入的電流(或電壓) 。此外,也有為了改善精度而把恒流源放入器件內(nèi)部的。DAC分為電壓型和電流型兩大類,電壓型DAC有權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)、T型電阻網(wǎng)絡(luò)和樹形開關(guān)網(wǎng)絡(luò)等;電流型 DAC有權(quán)電流型電阻網(wǎng)絡(luò)和倒T型電阻網(wǎng)絡(luò)等。
ADC的首要技術(shù)目標(biāo)
1. ADC分辨率指輸出數(shù)字量改變一個(gè)最低有用位(LSB)所需的輸入模仿電壓的改變量。
2. ADC的精度決定于量化差錯(cuò)及體系內(nèi)其他差錯(cuò)之總和。一般精度目標(biāo)為滿量程的±0. 02% ,高精度目標(biāo)為滿量程的0. 001%。
3 .轉(zhuǎn)化速率是指完成一次從模仿轉(zhuǎn)化到數(shù)字的AD轉(zhuǎn)化所需的時(shí)刻的倒數(shù)。積分型AD的轉(zhuǎn)化時(shí)刻是毫秒級(jí)屬低速AD,逐次比較型AD是微秒級(jí)屬中速AD,全并行/串并行型AD可到達(dá)納秒級(jí)。
4. 量化差錯(cuò)由于AD 的有限分辨率而引起的差錯(cuò),即有限分辨率AD的階梯狀搬運(yùn)特性曲線與無限分辨率AD (抱負(fù)AD)的搬運(yùn)特性曲線(直線)之間的最大偏差。通常是1個(gè)或半個(gè)最小數(shù)字量的模仿改變量,標(biāo)明為1LSB、1 /2LSB。
DAC的首要技術(shù)目標(biāo)
1 .分辨率指輸出模仿電壓的最小增量,即標(biāo)明DAC輸入一個(gè)最低有用位(LSB)而在輸出端上模仿電壓的改變量。
2. 樹立時(shí)刻是將一個(gè)數(shù)字量轉(zhuǎn)化為穩(wěn)定模仿信號(hào)所需的時(shí)刻,也能夠認(rèn)為是轉(zhuǎn)化時(shí)刻。DA中常用樹立時(shí)刻來描述其速度,而不是AD中常用的轉(zhuǎn)化速率。一般地,電流輸出DA樹立時(shí)刻較短,電壓輸出DA則較長。
3 .精度是指輸入端加有最大數(shù)值量時(shí),DAC的實(shí)踐輸出值和理論計(jì)算值之差,它首要包括非線性差錯(cuò)、份額體系差錯(cuò)、失調(diào)差錯(cuò)。
4 .線性度在抱負(fù)情況下,DAC的數(shù)字輸入量作等量添加時(shí),其模仿輸出電壓也應(yīng)作等量添加,可是實(shí)踐輸出往往有偏離。
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EV12AS350B 是高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器,應(yīng)用于高速測試設(shè)備包括自動(dòng)測試設(shè)備領(lǐng)域。它采用四個(gè)交疊 12 位 ADC 核,有 5.4GSPS 轉(zhuǎn)換速率,具備高采樣率、高分辨率和低雜散特性。
采集直流信號(hào)時(shí),ADC 芯片采樣率選擇需綜合考慮精度、成本和系統(tǒng)需求,純直流信號(hào)理論上低采樣率(如 10Hz 至 100Hz)即可,但為保障穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性通常需更高采樣率,一般建議至少為信號(hào)最高頻率的 5 - 10 倍,多通道信號(hào)采集時(shí)還需考慮通道數(shù);